现场检测土壤污染
X-MET7000系列手持型X射线荧光分析仪,能快速现场检测土壤里重金属污物。X-MET是环境应急检测、固体废弃物检测、土壤污染追踪、土壤修复和日常监控的必要分析工具。极大地降低了实验室分析的需求和成本。
X-MET7000使用牛津仪器专利的PentaPIN探测器,分析性能更强。X-MET7500装有高分辨率的硅漂移探测器(SDD),分析灵活快速,检测下限更低。
● 能非常准确地鉴定超过25种元素,包括V,Cr,Co,Cu,Ni,Zn,As,Se,Mo,Ag,Cd,Pb,Hg,Sb等